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主要是运用ICA算法提取独立分量ICs,建立相关统计量,用于TE过程的故障检测

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发表于 2023-11-16 05:14:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
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Contents.m
d00.mat
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d01.dat
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d02.dat
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d03.dat
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d04.dat
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d18_te.dat
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d19_te.dat
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d20_te.dat
d21.dat
d21_te.dat
demosig.m
dispsig.m
fastica.m
fasticag.m
fpica.m
gui_adv.m
gui_advc.m
gui_cb.m
gui_cg.m
gui_help.m
gui_l.m
gui_lc.m
gui_s.m
gui_sc.m
ICA.m
ICAm.m
icaplot.m
ksdensity_test.m
pcamat.m
PCAoriginal.m
PCAThrd.m
remmean.m
whitenv.m

运行例图:
01.gif


主要是运用ICA算法提取独立分量ICs,建立相关统计量,用于TE过程的故障检测.rar (4.13 MB, 下载次数: 0, 售价: 30 积分)


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